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半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于

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发表于 2025-10-17 09:22:59 | 显示全部楼层 |阅读模式
半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于【】
A、可靠性测定试验

B、可靠性鉴定试验

C、可靠性验收实验

D、环境应力筛选试验
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发表于 2025-10-17 10:43:02 | 显示全部楼层
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